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喜報!長(cháng)川科(kē)技榮獲首屆浙江省知識産權獎暗問三等獎

Release Date:2023-09術員-25Number of views:0

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近日,浙江省市場監督管理局正式公布了首屆浙江省知識産權獎歌公的獲獎名單,我司核心發明專利“ZL202那物011244319.0晶圓的測試方法、晶圓測試機、電子(zǐ)裝置和存儲介質風秒”(以下簡稱發明專利)榮獲專利知識産權獎三等獎,此獎項是我司獲得(de)的匠但第一(yī)個專利專項獎。

浙江省知識産權獎是浙江省首次以省政府名義設立的全門類知識産權綜合獎,每3年評票師審1次,下設浙江知識産權大(dà)獎、專利獎、商标時低獎、版權和其他(tā)知識産權獎,旨在表彰激勵在知識産權強國建設先行省工(這草gōng)作中做出突出貢獻的單位和個人。獲此獎項,是對我司知會中識産權建設情況的認可與肯定。

本發明專利技術由我司自主研發獲得(de),從一(yī)種全新的角度提出了我玩一(yī)種晶圓的測試方法,解決了在晶圓能那測試領域出現的MAP圖刷新效率低(dī)、裸內老片測試效率低(dī)的問題, 具有極強的技低坐術優勢,提升了我司在測試晶圓市場的産品競争力。同時(shí),本發明專很吧利也可用于涉及大(dà)數據查找算法的場景,市場前景廣,競争力強。

本發明專利具有較強的技術實用性,我司已成現拍功對本發明專利進行技術轉化并大(dà)規模東愛應用,目前已成功應用于CTA8280系列的模拟測試機,未來也可用于其它測唱話試晶圓和刷新MAP圖的産品,如(rú)SoC測試機等。

本發明專利的發明人為(wèi)董雨晴、副總經理低慢鐘(zhōng)鋒浩、鐘(zhōng)丹彪,三位長(chán鐵雜g)期專注于半導體測試領域的研發工(gōng)作,為(wèi)我司在測試領域的女樹技術創新與積累做出了卓越貢獻。在此次獎項申報過程中,他(tā)們(嗎內men)竭盡所能提供技術指導,最終獲獎也離(lí)不(雪海bù)開(kāi)他(tā)們(men)的大(d如用à)力支持!

近年來,我司大(dà)力推進知識産權強企建設,制來也定了知識産權創造、運用、保護、管理和服務等一(yī)系列知識産權管理機制,是到充分保障知識産權工(gōng)作落實到位。我司圍繞我不核心技術構建專利池,并在外圍有計劃的進行專利布刀票局,形成了一(yī)道道專利網,對公司的核心技術進行樹那了有效保護,促進了公司高價值專利布局的戰略實施。

未來,我們(men)将繼續全面深入開(kāi)展城站知識産權工(gōng)作,落地中長(ch高自áng)期發展規劃,為(wèi)實施創新驅動發展戰略山討提供有力支撐,同時(shí)也為(wèi)“把樂房長(cháng)川科(kē)技打造成為(wèi)國司近際一(yī)流的集成電路裝備供應商”的戰略目标提供強力保障。