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喜報!長(cháng)川科(kē)技榮獲首屆浙城錯江省知識産權獎三等獎

發布日期:2023-09-25浏覽次數:0次

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近日,浙江省市場監督管理局正式公布了首屆浙江省她就知識産權獎的獲獎名單,我司核心發明專利“ZL2020師兒11244319.0晶圓的測試方法、晶圓測試機、電子(物說zǐ)裝置和存儲介質”(以下簡稱發明專利)榮獲專利知識産權獎三等獎,此獎項是對內我司獲得(de)的第一(yī)個專利專項獎年師。

浙江省知識産權獎是浙江省首次以省政府名義設立的全門類知識産權綜合雜從獎,每3年評審1次,下設浙江知識産權大(dà)獎、專利獎、商标獎、版權和其他女機(tā)知識産權獎,旨在表彰激勵在知識産權強國看都建設先行省工(gōng)作中做出突出貢獻的單位和個人。獲此獎項,是是一對我司知識産權建設情況的認可與肯定。

本發明專利技術由我司自主研發獲得(de),從一(yī)種全新西刀的角度提出了一(yī)種晶圓的測試方法,解決了在晶技廠圓測試領域出現的MAP圖刷新效率低(dī)、裸片測試效率低(員妹dī)的問題, 具有極強的技術優勢,提升了我司在測試晶圓市場的産品競自是争力。同時(shí),本發明專利也可用于涉及大(dà)訊器數據查找算法的場景,市場前景廣,競争力強。

本發明專利具有較強的技術實用性,我司已成功對本發明專利進行技術轉化上爸并大(dà)規模應用,目前已成功應用于CTA8280系列的模拟測試機,議土未來也可用于其它測試晶圓和刷新MAP圖的産品,如(rú)SoC測試機等。什區

本發明專利的發明人為(wèi)董雨晴、副總經理鐘(zhōn們醫g)鋒浩、鐘(zhōng)丹彪,三位長(腦技cháng)期專注于半導體測試領域的研發工(gōng)作,現林為(wèi)我司在測試領域的技術創新與積累做出了卓越貢獻。在此次獎項家城申報過程中,他(tā)們(men)竭盡所能提供技森民術指導,最終獲獎也離(lí)不(bù)開(kāi)他(tā)們(men)的北一大(dà)力支持!

近年來,我司大(dà)力推進知識産權強企建設,制定了知識産權創造、運用、保裡員護、管理和服務等一(yī)系列知識産權管理機制,充分保障知識黑聽産權工(gōng)作落實到位。我司圍繞核心技討事術構建專利池,并在外圍有計劃的進行專利布局,形成了一(林司yī)道道專利網,對公司的核心技術進行了有效保護,促進門懂了公司高價值專利布局的戰略實施。

未來,我們(men)将繼續全面深入開(kāi)展知識産師雜權工(gōng)作,落地中長(cháng她慢)期發展規劃,為(wèi)實施創新驅動發展戰分器略提供有力支撐,同時(shí)也為(wèi)“把長(cháng)川科(森媽kē)技打造成為(wèi)國際一(yī)流的集成電路裝備供應商”的戰略目标提供腦大強力保障。